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noiseken電壓跌落 升高模擬試驗器 VDS-2002的介紹此設(shè)備是模擬類似開關(guān)元件觸點之間的放電，電子馬達產(chǎn)生的電弧放電等，上升時間很快，高頻率的噪聲，來評價電子設(shè)備的抗干擾能力的測試設(shè)備。因為包含測試脈沖中的頻率成分的脈沖寬度很寬，另外通過改變脈沖的寬度，也可以改變脈沖能量的強度，能實現(xiàn)市場上對于噪聲問題的再現(xiàn)性很高的噪聲測試。
產(chǎn)品型號：VDS-2002廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2023-04-22訪 問 量：772
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noiseken電壓跌落 升高模擬試驗器 VDS-2002的介紹
noiseken電壓跌落 升高模擬試驗器 VDS-2002的介紹
滿足IEC 61000-4-4 Ed.3標準。
搭載預檢功能，可簡單的進行測試前的點檢。
可進行差模試驗，實現(xiàn)模擬實際產(chǎn)生故障時的測試。（選件）
可選用三色指示燈進行更安全的試驗。（選件）
可選用簡化EUT連接的接線盒。（選件）
比舊型號更小的尺寸。（體積約為舊型號的67%）
采用簡單明了的面板顯示，減少電源線的連接錯誤。
Windows的軟件控制。（選件）
具有進行下次校正日期的通知功能。（Windows軟件上）
采用對應多國語言的操作性良好的液晶面板。
最大5kV的輸出電壓，最大2MHz的 脈沖頻率、可進行遠超標準試驗等級的測試。
CDN容量提高到單相型號AC240V/20A、單?三相型號AC600V/63A，可對應更多的EUT功率容量的要求。
可選用大容量CDN(100A或150A)，對各種EUT進行脈沖群測試。（選件）
可選用耦合夾和EMS探頭套件，對信號線和基板的抗干擾耐受性進行測試評
此設(shè)備是模擬類似開關(guān)元件觸點之間的放電，電子馬達產(chǎn)生的電弧放電等，上升時間很快，高頻率的噪聲，來評價電子設(shè)備的抗干擾能力的測試設(shè)備。
因為包含測試脈沖中的頻率成分的脈沖寬度很寬，另外通過改變脈沖的寬度，也可以改變脈沖能量的強度，能實現(xiàn)市場上對于噪聲問題的再現(xiàn)性很高的噪聲測試。
能實現(xiàn)高速脈沖的周期切換的測試。：因為脈沖切換的頻率很快，誤動作的發(fā)生率也會上升，可以期待測試時間的縮短。
脈沖寬度的設(shè)定很簡單。： 只需要操作按鈕就能按步進50ns進行設(shè)定，縮短了設(shè)定的時間以及減少了連線錯誤的情況。
測試脈沖波形的穩(wěn)定性更好，能實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測試。
減少了消耗品的數(shù)量，使用成本都得削減。
采用短路插頭，可以非常容易地切換共模/差模測試。
儀器內(nèi)內(nèi)置 50Ω終端器，容易配線。
通過輸出面板，可以直接連接EUT的AC插頭。（選件）
通過各種探頭，耦合夾，適配器，可進行各種各樣的試驗。（選件）
通過追加耦合網(wǎng)絡(luò)，可進行EUT電源三相五線的試驗。（選件）
脈沖寬度小的50ns～100ns程度的高頻噪聲，能量是比較小，但是短時間內(nèi)2次的波形上升以及下降造成的電壓變動，急速變動時發(fā)生的電磁場的耦合可以影響電子回路。
另外，脈沖寬度寬的800ns～1000ns 的高頻噪聲，因為能量比較大，能容易地給回路施加很大的電壓變動。高頻噪聲測試與國際標準IEC 61000-4-4群脈沖測試相比較，因為上升時間快，頻率成分高是他的特征。這樣對EUT施加干擾時，更容易侵入電路，更容易影響電子回路。
還有，由于高頻噪聲的脈沖寬度不同，包含的頻譜的成分及強度也不同，建議用不同脈沖寬度的田間進行多種類測試。
通過從以前的水銀繼電器方式變更為半導體繼電器方式，提高試驗脈沖波形的穩(wěn)定性，能實現(xiàn)比以前的定量性再現(xiàn)性更好的測試。還有水銀繼電器劣化時產(chǎn)生的輸出波形不良的情況也會消失
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